关于AUV（自主水下航行器）应用中O型圈泄漏故障分析的看法
1.我想追踪泄漏路径（例如染料渗透或荧光液体），以模拟通过向内部压力容器施加压力而发生的泄漏，您有什么建议？
2. 有没有办法通过磨损、变形、弹性体老化/劣化（O型圈和弹性体）或安装/工艺不当来找出O型圈泄漏的根本原因？
- 如果您想查找现有泄漏点，正压测试可能更合适。如果肥皂水不起作用，您可以在测试时将外壳浸入水中。如果您想确定泄漏路径，可以在外壳周围放置折叠的纸巾，如果泄漏时间不长，纸巾没有被完全浸透，并且在从测试环境中取出外壳时纸巾的方向没有改变，那么这些纸巾或许可以帮助您找到泄漏路径。
- 通常情况下，O型圈都能正常工作！正如你所说，导致O型圈失效的原因有很多，其中之一就是O型圈本身因各种原因而老化。我最常见的失效情况是：一根细小的头发或一些碎屑干扰了O型圈的密封，或者O型圈密封的表面完全干燥——它应该涂抹一层薄薄的硅脂。这不仅有助于密封，还能通过减少摩擦来延长其使用寿命。
以下是我的疑问，希望能进一步解释：
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建议对被测设备 (DUT) 进行正压测试，这可能更合适，即通过在 O 形圈周围放置装满肥皂水的折叠纸巾来对被测设备施加正压？
您能否详细介绍一下这里的测试样品是什么，以及您的测试目标是什么？
我分享的建议是查找 Blue Robotics 水下外壳/WetLink 电缆穿透器泄漏的典型方法。看起来您正在测试一个用作端面密封的 O 形圈，并计划使用一个简单的噪声泄漏传感器来指示测试失败？您的目标是测试多个单元吗？您的图有点难以理解——它是矩形外壳还是圆形外壳的横截面图？
这是被测设备的侧视图和俯视图（未按比例绘制）。
DUT 的目的是了解 O 形圈泄漏的根本原因（例如材料问题、设计问题、工艺问题）；DUT 的另一个目的是启动加速寿命试验 (ALT) 以验证设计变更。
如果你只用两个螺栓来给O型圈施加压力，而这个O型圈是“端面”密封，被压缩在平板和O型圈槽之间，那么泄漏可能是由于O型圈圆周上的压力不均匀造成的。换句话说，你没有均匀地挤压O型圈的直径！
请注意，Blue Robotics 外壳使用 6 个或更多螺栓将端盖板固定到法兰上，从而在该端面密封件上产生均匀的压力。
因此，如果您的目标是使用此装置来验证生产大量零件时的零件密封性，则可能存在一些根本性的设计原因/缺陷，导致您无法获得一致的密封效果……此设置是否与您的应用中零件的使用方式相符？
我有一个疑问，如果这是设计问题，我预期会在实际应用中看到更高的故障率，而不是最近发生的2~3起事件。我的论点合理吗？
渗透器泄漏的根本原因是什么？